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DT40P , 低价格、半导体硅片红外测温仪 , 300~1300°C ,3.43μm

DT40P , 低价格、半导体硅片红外测温仪 , 300~1300°C ,3.43μm

  • 所属分类:40系列二线制红外测温仪
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2021-04-06 12:31:21
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

产品详细描述


 

半导体制造硅片测温专用型DT40P


测温范围:300~1300°C ,400~1400°C


波长:3.43μm

 

 

主要应用:

 

1) 半导体制造硅片测温


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)

 

 

 性能指标

 

型号DT40P
测温范围300~1300°C
400~1400°C *
主要用途半导体生产硅片测温,聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙类塑料薄膜
光谱范围3.43?m
光学系数3008001200
距离系数50:1
测量误差11.0%测量值或1 K
重复精度10.5%测量值或0.5 K 
NETD20.1°C
响应时间(t95)150ms, 可调达100 s
发射率0.200~1.000
瞄准*标注的为无瞄准(可选外置激光瞄准灯) *标注的可选内置LED瞄准灯
可调参数发射率, 响应时间, 温度单位°C°F, 存储方式, 子测温范围, 可通过USB通信接口和App调整
供货范围DT40P,操作手册,安装螺母,检测单,Windows?PYROSOFT Spot,连接电缆需单独订货
1经过黑体炉标定, Tamb=23°C, ε=1, t95=1s, 取咀大值 2噪声等温差.  3  *可选内置LED瞄准.  

 

 

 

半导体硅片测温 , 红外测温仪DT40P

 

 

 

 

红外测温仪DY10P">高精度硅片测温、塑料薄膜红外测温仪DY10P


 


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